講演No.2607
「高分子材料の二次イオン質量分析（SIMS）と機械学習による分析」
青柳　里果（成蹊大理工）2026年12月23日実施

概要

高分子材料を二次イオン質量分析（SIMS）で評価することによって得られる一般的な情報、測定例から、最新の事例まで紹介する。さらに機械学習の応用によって、定性および定量分析についてどのような情報が得られるか紹介する。